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IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

來源: 樹人論文網(wǎng) 瀏覽次數(shù):427次
創(chuàng)刊時(shí)間:1980
所屬分區(qū):2區(qū)
周期:Monthly
ISSN:0741-3106
影響因子:3.753
是否開源:No
年文章量:419
錄用比:約25%
學(xué)科方向:工程:電子與電氣
研究方向:工程技術(shù)
通訊地址:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
官網(wǎng)地址:http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=55
投稿地址:http://mc.manuscriptcentral.com/edl
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IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS雜志中文介紹

《IEEE電子器件快報(bào)》發(fā)表了有關(guān)電子和離子集成電路器件和互連的理論、建模、設(shè)計(jì)、性能和可靠性的原創(chuàng)和重要貢獻(xiàn),涉及絕緣體、金屬、有機(jī)材料、微等離子體、半導(dǎo)體、量子效應(yīng)結(jié)構(gòu)、真空器件、以及在生物電子學(xué)、生物醫(yī)學(xué)電子學(xué)、計(jì)算、通信、顯示、微電子力學(xué)、成像、微驅(qū)動(dòng)器、納米電子學(xué)、光電子學(xué)、光電學(xué)、功率電子學(xué)和微傳感器的材料。

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS雜志英文介紹

IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects, involving insulators, metals, organic materials, micro-plasmas, semiconductors, quantum-effect structures, vacuum devices, and emerging materials with applications in bioelectronics, biomedical electronics, computation, communications, displays, microelectromechanics, imaging, micro-actuators, nanoelectronics, optoelectronics, photovoltaics, power ICs and micro-sensors.

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS影響因子

工程:電子與電氣領(lǐng)域相關(guān)期刊
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